Skip to content

Рубрика: Основы

Фундаментальные основы анализа нанопленок Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер

У нас вы можете скачать книгу Фундаментальные основы анализа нанопленок Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер в fb2, txt, PDF, EPUB, doc, rtf, jar, djvu, lrf!

«1. Альфорд, Терри Л. В37 Фундаментальные основы анализа нанопленок / Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер; пер. А с англ. А. Н. Образцова, М. А. Долганова; науч. ред. А. Н. » 1. Альфорд, Терри Л.. В Фундаментальные основы анализа нанопленок / Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер; пер. А с англ. Название: Фундаментальные основы анализа нанопленоки. Автор: Альфорд Терри Л., Фельдман Леонард К., Майер Джеймс В. Аннотация: Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Скачай бесплатные материалы по трейдингу! Более работающих стратегий! Заходи!18+. Название: Фундаментальные основы анализа нанопленоки Автор: Альфорд Терри Л., Фельдман Леонард К., Майер Джеймс В. Аннотация: Книга посвящена. Лиховидов В.Н / ФУНДАМЕНТАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ МИРОВЫХ ВАЛЮТНЫХ РЫНКОВ. Название: ФУНДАМЕНТАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ МИРОВЫХ ВАЛЮТНЫХ РЫНКОВ Автор: Лиховидов В.Н Аннотация: Первое на русском языке учебное пособие по фундаментальному анализу для. 1 отзыв». Один отзыв на «Томилин К.А. / Фундаментальные физические постоянные». Гринев Владимир Тимофеевич пишет: в Как отцы водородной бомбы завели в тупик фундаментальную физику. Альфорд, Терри Л.. Фундаментальные основы анализа нанопленок / Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер ; науч. ред. А. Н. Образцов ; пер.: А. Н. Образцов, М. А. Долганов ; Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч. образоват. центр по нанотехнологиям. - Москва: Научный мир, - с.: ил. ; 25 см. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники / редкол.: А. Р. Хохлов (гл. ред.) [и др.]). - Параллельный титульный лист английский. - Библиография в конце глав. - Пер. изд.: Fundamentals of nanoscale film analysis / L. Alford, Leonard C. Feldman, James W. «Фундаментальные основы анализа нанопленок», Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер Перевод с англ. — А.Н. Образцов, М.А. Долганов, науч. ред. — д.ф.-м.н., проф. А.Н. Образцов - Переплет, с. - Формат: 70х/16 - Год издания: - ISBN: - Цена: руб. Аннотация.  Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе. Фундаментальные основы анализа нанопленок, Джеймс В. Майер, Леонард К. Фельдман, Терри Л. Альфорд - рейтинг книги по отзывам читателей, краткое содержание. Автор  О книге. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis Название в оригинале. Год первого издания книги. Краткое содержание. Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Фундаментальные основы анализа нанопленок / Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер. Сохранено в: Вид документа: Книги. Автор: Альфорд, Т. Л. Опубликовано: Москва: Научный мир,   Фундаментальные основы языка политики: продвинутый курс английского языка: для студентов высших учебных заведений в качестве учебного пособия по направлению ― "Филология" / А. А. Джиоева. Авторы: Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер. Перевод с англ.: А.Н. Образцов, М.А. Долганов.  Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе. Фундаментальные основы анализа нанопленок / Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер; пер. А  В первых девяти главах уделено внимание анализу фазового состава марочных алюминиевых сплавов, как российских, так и американских. Две последние главы посвящены сплавам нового поколения: высокопрочным николинам и термостойким сплавам, легированным цирконием и скандием. Количественный анализ фазового состава выполнен с использованием современной программы Thermo-Calc. Книга рассчитана на широкий круг специалистов: работники промышленных предприятий, ответственные за качество продукции, научных работников отраслевых и академических институтов. Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер. Описание. Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, по. Т. Л Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер. Фундаментальные основы анализа нанопленок. пер. с англ. А. Н. Образцова, М. А. Долганова. Дата поступления в продажу: Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. В данный момент товара в продаже нет.

>